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天瑞光谱仪器,天瑞光谱分析仪,天瑞XRF测试仪,国产XRF光谱仪 |
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产品功能:
1.具有远程诊断功能说明:我们软件集成了常用的DCS系统的通讯协议,如TCP/IP,OPC,ModBus,RS232/485等,可与工厂的配料系统的控制中心或PLC进行数据交换,即可向配料系统传送分析数据,也可传送配比数据。实现在线数据分析、在线质量。
2.具有技术的,快速,安全,性能可靠而实用的样品装卸系统
3.摇臂式设计的样品装卸系统,完善的粉末保护方式,预真空室和限定位置机构,实现高度重现性,无故障,快速稳定。1000W光路设计示意图,
该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、Al、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率:采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比;采用自动稳谱装置,了仪器工作的一致性:利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有好的分析精度;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。
性能特点
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
x荧光光谱仪样品种类样品状态一般有固体块状样品、粉末样品和液体样品等。
(1)固体块状样品包括黑色金属、有色金属、电镀板、硅片、塑料制品及橡胶制品等,其中金属材料占了很大的比例。
(2)粉末样品包括各种矿产品,水泥及其原材料,金属冶炼的原材料和副产品如铁矿石、煤、炉渣等;还有岩石土壤等。
(3)液体样品油类产品、水质样品以及通过化学方法将固体转换成的溶液等
技术指标高灵敏度探测器(分辨率达149Ev),精密的放大电路,
提高Cd、Pb元素的灵度。
检出下限(Cd/Pd):Cd/Cr/Hg/Br≦2ppm,Pb≦5ppm
样品形状:任意大小,任意不规则形状
样品类型:塑胶/金属/薄膜/粉末/液体
小样品腔尺寸:300×300×100mm
大样品腔尺寸:样品尺寸不受限制
X射线管:靶材/Mo管电压/5~50kV管电流/1~1000μA
照射直径:2、5、8mm
探测器:Si(PIN)半导体高灵敏度探测器
滤光片:八种新型滤光片自动选择
样品定位:微动载物平台(选配)
样品观察:130万分辨率彩色CCD摄像机
微区分析:X光聚焦微区分析系统(选配)软件
定量分析:理论Alpha
将X射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井这项技术的到之处在于:通过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性,再通过岩性的组合特征分析来判断层位,因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。
真空形成条件及高灵敏半导体探测器保障对岩心中的元素具有的检出限,为录井平台提供更有意义的具体数据特征;更宽的元素检出范围满足多种元素的同时检测需求;同时引入了目前的4096道数字多道技术,采用进口超薄铍窗有高激发效率的X射线管,使仪器计数率更高,稳定性更好,适用面更广;
优化了光路结构、软硬件可靠性,真空腔体使之性能更好、更便携;
特的抗震性设计,高保护光路设计使得该仪器通过了第三方机构高低温、高低频电动振动及湿热等使用认证;
在现场测试、在线检测以及各类地质勘察多元素检测中充分发挥作用。
引起样品误差的原因:
(1)样品物理状态不同,样品的颗粒度、密度、光洁度不一样;样品的沾污、吸潮,液体样品的受热膨胀,挥发、起泡、结晶及沉淀等。
(2)样品的组分分布不均匀 样品组分的偏析、矿物效应等。
(3)样品的组成不一致 引起吸收、增强效应的差异造成的误差
(4)被测元素化学结合态的改变 样品氧化,引起元素百分组成的改变;轻元素化学价态不同时,谱峰发生位移或峰形发生变化引起的误差。
(5)制样操作 在制样过程中的称量造成的误差,稀释比不一致,样品熔融不完全,样品粉碎混合不均匀,用于合成校准或基准试剂的纯度不够等。
3、样品种类样品状态一般有固体块状样品、粉末样品和液体样品等。
(1)固体块状样品 包括黑色金属、有色金属、电镀板、硅片、塑料制品及橡胶制品等,其中金属材料占了很大的比例。
(2)粉末样品 包括各种矿产品,水泥及其原材料,金属冶炼的原材料和副产品如铁矿石、煤、炉渣等;还有岩石土壤等。
(3)液体样品 油类产品、水质样品以及通过化学方法将固体转换成的溶液等。