关键词 |
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面向地区 |
从蔡司Xradia Context microCT 到蔡司Xradia 515/520 Versa，直到蔡司Xradia 610/620 Versa，您可以在应用现场将系统转换为全新的X 射线显微镜产品。除了在您的使用现场进行仪器转换外，新的模块还在不断开发中，这些模块不断提供新的功能来让您的仪器功能更强大，如原位样品环境、特的成像模式和用于提高工作效率的模块。此外，定期发布的软件所包括的新功能也适用于已有设备，从而增强和扩展您的研究能力。
跨领域融合创新
与扫描探针技术结合：实现场发射-原子力联用成像
低温场发射显微镜：4K环境下研究量子限域效应
太空应用：ESA开发微型场发射显微镜用于空间站材料失效分析
现存技术瓶颈
针尖制备成品率：单晶针尖合格率不足30%
热场致发射干扰：电流稳定性在10^-3 A水平波动约5%
样品兼容性：于导电材料分析
电子源开发
单晶钨场发射体的亮度比热阴10^5倍，应用于高分辨率电子显微镜（如JEOL JEM-F200）中，束斑直径<1 nm。
成像原理
电子从针尖表面不同晶面发射时，由于功函数差异导致发射电流变化。这些电子经加速后轰击荧光屏，形成与表面原子排列对应的明暗图像。例如，钨（110）晶面因功函数较低呈现亮斑，而（111）晶面显示暗区。
场发射显微镜（Field Emission Microscope, FEM）是20世纪30年代由德国科学家Ernst Müller发明的一种高分辨率表面分析技术。其核心原理基于量子力学中的场致电子发射效应，能够以原子级分辨率直接观察材料表面结构。作为早期表面科学研究的重要工具，FEM为后续场离子显微镜（FIM）和扫描隧道显微镜（STM）的发展奠定了基础。本文将系统阐述场发射显微镜的工作原理、仪器结构、关键技术及其在材料科学、纳米技术等领域的应用。
